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便攜式四探針測試儀(電阻率:0.01~1999.9Ω.cm,方塊電阻:0.1~19999Ω/,可擴展,主機,FT201

價格:8000元 貨號:PN000134 上架日期:09-11-20 09:31 人氣:
產品資料
  
便攜式四探針測試儀(電阻率:0.01~1999.9Ω.cm,方塊電阻:0.1~19999Ω/,可擴展,主機,FT201探頭)

本儀器廣泛應用于太陽能單晶(多晶)生產廠家為硅材料的分選測試,半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。
運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
儀器采用了最新電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用。

 RTS2測量范圍

 電阻率:0.011999.9Ω.cm  
 
方塊電阻:0.119999Ω/□

 RTS2A測量范圍

 電阻率:0.001199.99Ω.cm  
 
方塊電阻:0.011999.9Ω/□

RTS2恒流源

 電流量程分為100μA1mA兩檔,各檔電流連續可調

RTS2A恒流源

 電流量程分為1mA10mA兩檔,各檔電流連續可調

數字電壓表

 量程及表示形式:000.00199.99mV;    
 
分辨力:10μV
 
輸入阻抗:>1000MΩ
 
精度:±0.1%
 
顯示:四位半紅色發光管數字顯示;極性、超量程自動顯示;

四探針探頭基本指標

 間距:1±0.01mm
 
針間絕緣電阻:≥1000MΩ
 
機械游移率:≤0.3%
 
探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm
 
探針壓力:516 牛頓(總力)

四探針探頭應用參數

 (見探頭附帶的合格證)

模擬電阻測量相對誤差
(
JJG508-87進行)

 1Ω10Ω100Ω小于等于0.3%±1

整機測量最大相對誤差

(用硅標樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±5%

整機測量標準不確定度

 ≤5%

外型尺寸

 125mm()*145mm()*245mm()

標準使用環境

 溫度:23±2℃;
 
相對濕度:≤65%
 
無高頻干擾;
 
無強光直射;

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